近50種芯片類型全覆蓋！置富科技在存儲(chǔ)芯片測(cè)試領(lǐng)域創(chuàng)造“芯”可能

在人工智能和萬(wàn)物互聯(lián)的AI浪潮下，數(shù)據(jù)已成為驅(qū)動(dòng)數(shù)字經(jīng)濟(jì)的核心動(dòng)能，而閃存芯片作為數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的基石，其品質(zhì)直接影響數(shù)據(jù)中心、智能終端等關(guān)鍵領(lǐng)域的運(yùn)行效能與數(shù)據(jù)安全。

置富科技憑借自主研發(fā)的閃存測(cè)試技術(shù)和設(shè)備，通過(guò)多年的數(shù)據(jù)積累，依托AI人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法模型，建立存儲(chǔ)芯片底層大數(shù)據(jù)庫(kù)，為不同應(yīng)用領(lǐng)域存儲(chǔ)芯片測(cè)試建模提供直觀的數(shù)據(jù)支撐。現(xiàn)已覆蓋近50種市場(chǎng)主流芯片規(guī)格 ，正以創(chuàng)新之力填補(bǔ)國(guó)內(nèi)空白，推動(dòng)產(chǎn)業(yè)發(fā)展！

作為一家專業(yè)的閃存芯片智能測(cè)試服務(wù)商，置富科技已推出便攜式-專業(yè)版、生產(chǎn)版、科研版、寬溫版、卓越版、芯片測(cè)試自動(dòng)分選機(jī)、芯片高溫篩選機(jī)、eMMC芯片智能測(cè)試系統(tǒng)和閃存失效分析儀，針對(duì)不同的應(yīng)用場(chǎng)景，可提供不同的產(chǎn)品解決方案，也可以根據(jù)客戶需求，提供定制化測(cè)試服務(wù)。

置富閃存芯片智能測(cè)試系統(tǒng)，是一款可量身定制測(cè)試方案的綜合閃存測(cè)試系統(tǒng)，能同時(shí)支持多種測(cè)試pattern及自定義測(cè)試參數(shù)功能，可以實(shí)現(xiàn)閃存顆粒剩余壽命預(yù)測(cè)、實(shí)測(cè)、數(shù)據(jù)保持和讀干擾等多種功能性測(cè)試，同時(shí)支持寬溫測(cè)試，企業(yè)級(jí)芯片測(cè)試，幫助用戶檢驗(yàn)閃存顆粒的可靠性狀態(tài)，是國(guó)內(nèi)唯一自主研發(fā)的閃存芯片智能測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)的研發(fā)和面世，可以極大地提高測(cè)試效率和精準(zhǔn)度，保證存儲(chǔ)產(chǎn)品的良率，降低企業(yè)生產(chǎn)成本。

置富科技將繼續(xù)深耕存儲(chǔ)器測(cè)試領(lǐng)域，通過(guò)持續(xù)的數(shù)據(jù)積累，不斷的優(yōu)化創(chuàng)新，以智能化測(cè)試技術(shù)賦能存儲(chǔ)芯片全生命周期管理，推動(dòng)存儲(chǔ)器測(cè)試產(chǎn)業(yè)健康有序發(fā)展。