發(fā)明專利
一種基于深度學(xué)習(xí)的閃存壽命預(yù)測
方法系統(tǒng)及計(jì)算機(jī)可讀存取介質(zhì)
一種基于深度學(xué)習(xí)的閃存壽命預(yù)測
方法系統(tǒng)及計(jì)算機(jī)可讀存取介質(zhì)
一種基于操作時(shí)間或電流判斷閃存芯片可靠性
的方法及測試裝置
一種基于操作時(shí)間或電流判斷閃存芯片可靠性
的方法及測試裝置
一種基于決策樹算法的閃存
壽命預(yù)測方法及系統(tǒng)
一種基于決策樹算法的閃存
壽命預(yù)測方法及系統(tǒng)
一種基于深度學(xué)習(xí)的閃存壽命預(yù)測
方法、系統(tǒng)及計(jì)算機(jī)可讀存取介質(zhì)
一種基于深度學(xué)習(xí)的閃存壽命預(yù)測
方法、系統(tǒng)及計(jì)算機(jī)可讀存取介質(zhì)
一種基于數(shù)學(xué)模型的閃存芯片
壽命預(yù)測方法
一種基于數(shù)學(xué)模型的閃存芯片
壽命預(yù)測方法
一種在線動(dòng)態(tài)預(yù)測閃存芯片壽命
的方法及裝置
一種在線動(dòng)態(tài)預(yù)測閃存芯片壽命
的方法及裝置
一種基于特征量的閃存壽命預(yù)測
方法、系統(tǒng)及存儲介質(zhì)
一種基于特征量的閃存壽命預(yù)測
方法、系統(tǒng)及存儲介質(zhì)
一種閃存存儲陣列的
實(shí)現(xiàn)方法和裝置
一種閃存存儲陣列的
實(shí)現(xiàn)方法和裝置
一種SSD內(nèi)實(shí)現(xiàn)的閃存
壽命預(yù)測方法
一種SSD內(nèi)實(shí)現(xiàn)的閃存
壽命預(yù)測方法
一種閃存接口控制
方法及裝置
一種閃存接口控制
方法及裝置
一種閃存器軟件的信息
提取方法
一種閃存器軟件的信息
提取方法
軟件著作權(quán)
置富SSD多命令組合測試系統(tǒng)
置富SSD多命令組合測試系統(tǒng)
NAND閃存PE測試系統(tǒng)[簡稱FT-PE]
NAND閃存PE測試系統(tǒng)[簡稱FT-PE]
NAND閃存數(shù)據(jù)保持測試分類與篩選系統(tǒng)
NAND閃存數(shù)據(jù)保持測試分類與篩選系統(tǒng)
閃存篩選方法軟件
閃存篩選方法軟件
置富eMMC多工單可擴(kuò)展測試系統(tǒng)
置富eMMC多工單可擴(kuò)展測試系統(tǒng)
置富eMMC老化測試系統(tǒng)
置富eMMC老化測試系統(tǒng)
置富科技固態(tài)硬盤閃存顆粒測試軟件
置富科技固態(tài)硬盤閃存顆粒測試軟件
置富科技固態(tài)硬盤閃存顆粒測試軟件
置富科技固態(tài)硬盤閃存顆粒測試軟件
置富MES系統(tǒng)[簡稱:ZFMES]
置富MES系統(tǒng)[簡稱:ZFMES]
置富半導(dǎo)體固態(tài)存儲測試軟件
置富半導(dǎo)體固態(tài)存儲測試軟件
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