厚積薄發(fā) 創(chuàng)新引領·置富閃存芯片智能測試系統(tǒng)已覆蓋超過40種芯片類型

2018年，置富科技第一代閃存芯片智能測試系統(tǒng)樣機問世，自此，公司邁出了高端半導體測試設備國產(chǎn)化替代的步伐。這幾年，置富科技一直保持與行業(yè)翹楚以及客戶的緊密聯(lián)系，挖掘市場需求，不斷完善迭代閃存芯片智能測試系統(tǒng)功能，以適應日益復雜的芯片設計和制造需求和用戶體驗。

置富閃存芯片智能測試系統(tǒng)通過龐大的數(shù)據(jù)采集和數(shù)學模型搭建，現(xiàn)階段支持芯片測試類型已突破40種，覆蓋市場上主流芯片規(guī)格 ，可進一步為各存儲廠商和行業(yè)客戶提供全面專業(yè)的芯片測試服務。

置富閃存芯片智能測試系統(tǒng)是一款可量身定制測試方案的綜合閃存測試系統(tǒng)，實驗版、科研版、寬溫版以及卓越版測試系統(tǒng)可提供寬溫測試環(huán)境，并行測試閃存顆粒種類多達64種，并行測試閃存顆粒數(shù)量多達512顆，同時支持多種測試 pattern 及自定義測試參數(shù)功能，提供一鍵式基礎測試流程、高靈活性的實驗測試及高階測試流程，可以實現(xiàn)閃存顆粒剩余壽命預測、實測、數(shù)據(jù)保持和讀干擾等多種功能性測試，幫助用戶檢驗閃存顆粒的可靠性狀態(tài)。完成測試后，用戶可方便快捷地一鍵導出測試報告，為用戶提供直觀的圖形化測試數(shù)據(jù)，為閃存顆粒等級分類和應用提供可靠的參考依據(jù)，并基于閃存顆粒品質檢測結果實現(xiàn)智能分級，是國內(nèi)唯一自主研發(fā)的閃存芯片智能測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)的研發(fā)和面世，可以極大地提高測試效率和精準度，降低企業(yè)生產(chǎn)成本。

目前置富科技推出的閃存芯片智能測試系統(tǒng)主要有：便攜式-專業(yè)版、生產(chǎn)版、科研版、寬溫版、卓越版、芯片測試自動分選機、芯片高溫篩選機和針對汽車、手機芯片測試的eMMC芯片智能測試系統(tǒng)，針對不同的應用場景，可提供不同的產(chǎn)品解決方案，也可以根據(jù)客戶需求，提供定制化服務。

置富閃存芯片智能測試系統(tǒng)支持超過40種不同類型的芯片，不僅僅是提高生產(chǎn)效率的有效工具，也是保障芯片質量的堅實防線。

未來置富科技將繼續(xù)不斷探索和創(chuàng)新，持續(xù)優(yōu)化設備功能，不斷提高閃存測試效率和準確性，為芯片質量保駕護航，為高端國產(chǎn)化半導體測試設備提供更多選擇，促進半導體測試產(chǎn)業(yè)健康有序發(fā)展。